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：

3GS/s-10GS/s 1GS/s-3GS/s 100 M-1GS/s 10-100MS/s 10MS/s以下

精度

：

8 Bit 12 Bit 14 Bit 16 Bit 24 bit

接口

：

PCIe Ethernet PXIe PCI

DN6.44系列

产品简介： 12, 16, 20 或 24 通道，采样率 130 MS/s 到500 MS/s ；所有通道同步采集；所有通道独立的ADC和放大； 6 输入范围: ±200 mV 到　±10 V ； 6, 8, 10 或　12 GSample 内存；

板卡类型： AD卡

DN6.46系列-48通道高速数据采集

产品简介： 16, 24, 32, 40 或 48 通道，采样率200 kS/s 到 3 MS/s ；软件选择单端或差分输入；所有通道同步采集；所有通道独立的ADC和放大； 8个输入范围: ±50 mV 到 ±10 V ； 512 MSample/1 GSample内存

板卡类型： AD卡

DN6.59系列

产品简介： 24, 32、40或48通道，采样率 5MS/s 到 125MS/s ；软件选择单端或差分输入；所有通道同步采集；每通道独立的ADC和放大；6 输入范围: ±200 mV 到 ±10 V ； 1GSample/2GSample 内存

板卡类型： AD卡

DN6.66系列

产品简介： 12, 16, 20 或 24 通道 625 MS/s采样率； 6, 8, 10 或 12 通道 1.25 GS/s采样率；所有通道同步；输出信号带宽到 400 MHz ；每通道高达1 GByte内存

板卡类型： DA卡

LTTL-3DS 型多功能缺陷荧光光谱仪/热释光/光释光

产品简介： LTTL-3DS型多功能缺陷荧光光谱仪是测量固体发光材料三维光谱的测量装置。热释光三维发光谱，即包含温度和波长与发光强度的三维图谱的测定有助于识别发光中心的类型和了解相关的缺陷结构，为了解热释光的发光机制研究提供更加丰富的参数。LTTSL-3DS型增加了激发光源，包括X射线、紫外光源和红外光源等，以及制冷型高灵敏稳定性探头以提高三维光谱品质，也可以测量光激发下的材料发光谱。

板卡类型：

M2i.20系列

产品简介： 8 bit 采样率到200 MS/s ； 2通道时采样率到 200 MS/s, 4通道时采样率到100 MS/s ；所有通道同步采集；所有通道独立的ADC和放大； 7个输入范围: ±50 mV 到± 5 V ；高达2 GSample板载内存；每个系统能同步16块卡、通过系统同步能达到271块卡同步

板卡类型： AD卡

M2i.46系列

产品简介： 8 通道 16 bit A/D 采样率到3 MS/s ； 2, 4 或 8 通道，采样率从 200 kS/s 到 3 MS/s ；所有通道同步采集；软件选择单端或差分输入；所有通道独立的ADC和放大；完整的板卡自校准； 8个输入范围: ±50 mV 到 ±10 V ；高达1 GSample 板载存储

板卡类型： AD卡

M2i.60系列

产品简介： 14 bit 125 MS/s 任意波形发生器；快速的14 bit 任意波形发生器；1, 2 或 4 通道，采样率 20 MS/s, 60 MS/s 或 125 MS/s ；所有通道同步；50欧姆，输出范围± 3 V ；高达1 GSample 板载内存

板卡类型： DA卡

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