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核电子学产品
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PCIe
Ethernet
CdTe碲化镉探测采集系统
产品简介：
高计数率的CdTe碲化镉探测采集系统，信号处理和电源集成到一个模块中，能够处理高计数率的CdTe碲化镉信号。
板卡类型：
核电子学产品
LTTL-3DS 型多功能缺陷荧光光谱仪/热释光/光释光
产品简介：
LTTL-3DS型多功能缺陷荧光光谱仪是测量固体发光材料三维光谱的测量装置。热释光三维发光谱，即包含温度和波长与发光强度的三维图谱的测定有助于识别发光中心的类型和了解相关的缺陷结构，为了解热释光的发光机制研究提供更加丰富的参数。LTTSL-3DS型增加了激发光源，包括X射线、紫外光源和红外光源等，以及制冷型高灵敏稳定性探头以提高三维光谱品质，也可以测量光激发下的材料发光谱。
板卡类型：
mini VME机箱
产品简介：
该VME机箱只有7个槽，体积也比较小巧，大小和普通台式机差不多，重量只有6.5Kg，比较轻巧，方便外出实验、研究等。该VME机箱只能给插件供电，没有背板总线，所以也不需要额外的控制器插件。
板卡类型：
核电子学产品
SDD X射线探测系统
产品简介：
1元，4元和7元SDD探测系统，有效面积：350mm² (65mm² Collimated to 50mm² x 7 elements) ；功能：Histogram, List, Waveform, ROI-SCA ；ADC：4通道 100Msps 14bit ；能力分辨率：244eV@5.9keV MnKα Peakingtime 0.25μs,1000kOCR
板卡类型：
核电子学产品
SL08型 释光测量仪
产品简介：
SL08型 释光测量仪适用于荧光体和磷光体等发光材料的发光特性和发光机理的科学研究工作。测量仪可以对样品进行x射线、紫外线原位照射，以及测量热释光和光释光发光曲线，既可以读出累计辐射剂量值，也可以进行发光材料的缺陷能级分析。测量程序具有参数编辑、发光曲线显示、数据处理等功能。仪器采用最新模块化设计，质量可靠，造型美观，使用方便，功能丰富，温度控制稳定，涉及多项专利技术。
板卡类型：
TDC时间数字转换器/xTDC4-PCIe/xTDC4-TBT
产品简介：
xTDC4是最新一代的时间数字转换产品，它简单易用，最小时间分辨为13 ps，同时具备非常快的读出速率，非常适合于高计数率和高时间分辨率的TOF应用，如飞行时间质谱、延迟成像、时间相关的光子计数（TCSPC）激光雷达（LIDAR）。
板卡类型：
核电子学产品
TDC时间数字转换器/飞行时间质谱采集卡
产品简介：
HPTDC8-PCI是新一代的时间数字转换卡。它的最小时间分辨为25 ps，一个通道上的多次事件之间的死区时间小于5 ns，非常适合于高时间分辨率应用的基础研究中，如飞行时间质谱（TOF）、时间延迟成像和激光雷达（LIDAR）。
板卡类型：
核电子学产品
X射线数字信号处理器/APU504XDC
产品简介：
APU504XDC是一款全新的数字信号处理器，它具备非常高的计数率并且可以最大限度地减少死区时间。同时也考虑了使用的简便性和灵活性，结构紧凑，采用网线连接，非常方便和系统集成。非常适合QXAFS测量应用。
板卡类型：
核电子学产品
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