高速采集卡用于正电子湮灭谱仪正电子湮没谱学是一种研究物质微观结构的方法。正电子是电子的反粒子,两者除电荷符号相反外,其他性质（静止质量、电荷的电量、自旋）都相同。正电子进入物质在短时间内迅速慢化到热能区,同周围媒质中的电子相遇而湮没,全部质量(对应的能量为2meс2)转变成电磁辐射──湮没γ光子（见电子对湮没）。50年代以来对低能正电子同物质相互作用的研究，表明正电子湮没特性同媒质中正电子-电子系统的状态、媒质的电子密度和电子动量有密切关系。随着亚纳秒核电子学技术、高分辨率角关联测量技术以及高能量分辨率半导体探测器的发展，可以对正电子的湮没特性进行精细的测量，从而使正电子湮没方法的研究和应用得到迅速发展。现在，正电子湮没谱学已成为一种研究物质微观结构的新手段。
传统正电子湮灭谱仪中的测量部分由甄别器、恒比定时器、延迟器、符合模块、时间数字转换器、前置放大器以及计数器组成，模块很多结构复杂。
但随着高速数字电路的发展，特别是ADC采样速率越做越高，使得用数字电路实现传统的正电子谱仪成为可能，数字电路具备系统使用简单、调试灵活、性能稳定等特点。
如图所示，高速采集卡经过高速ADC对信号进行采集，然后高速采集卡上经过恒比定时、延迟、翻转、时间数字准换以及能谱计数等运算，最终输出所需要的正电子谱图。一个高速采集卡模块实现了传统七八个模块实现的功能。 该高速采集卡采用的是采样率3GS/s,8bit,2通道的高速ADC。
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