第三届关于正电子科学的中日联合研讨会(The 3rd China-Japan Joint Workshop on Positron Science)TechnoAP专注于核信号采集和处理,目前有非常丰富的产品和广泛的应用。其中在正电子测量方面也有多年的研究经验,其中有一套完整的正电子测量系统,包括电源、数据获取和上位机软件分析。 参展地点:中国科学技术大学 参展时间:2017年6月9日-11日 展出的产品: 1、Circuit Boardfor Positron Lifetime Measurement 正电子寿命测量法用于半导体材料中空位型缺陷的测量。这是一种带有测量装置和电源的全寿命正电子寿命测量系统。在寿命(时间)测量系统中,时间是用3GS/s采集卡来测量的,进来信号是由两BaF2的闪烁体产生的高速脉冲信号。在符合多普勒展宽的情况下,用两个锗半导体探测器符合的波高值制成二维直方图。此外,这些设备可以用来测AMOC,这个寿命和动量相关。 Feature ●功能: Lifetime、CDB和AMOC CDB :2CH 100MSPS 14bit ●时间分辨: FWHM(半高宽) 192ps (511keV@22Na, BaF2 闪烁体) FWHM(半高宽) 160 – 190 ps (Silica) ●能量分辨: 1.23keV(512keV@106Ru) 1.69keV(1.33MeV@60Co) ●PMT高压 : 2CH, -4000V 对于Ge(锗)半导体: 2CH, +5000V ※包括前放 ●接口: Ethernet (TCP/IP) ●附件包括应用指导手册
APV8702配备每个通道上高速3GHZ的ADC,应用于辐射测量模块的时间,如恒比定时CFD、延迟、TAC、MCA等。
γ射线谱的数字信号处理 ●2, 4, 8 通道(同步采样) ●操作模式:直方图、列表和波形 ●软件:应用软件和操作手册
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