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正电子测试(材料缺陷测试)PALS

正电子湮没测试

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正电子湮没技术,是一项较新的核物理技术,它利用正电子在凝聚物质中的湮没辐射带出物质内部的微观结构、电子动量分布及缺陷状态等信息,从而提供一种非破坏性的研究手段而备受人们青睐。现在正电子湮没技术已经进入固体物理、半导体物理、金属物理、原子物理、表面物理、超导物理、生物学、化学和医学诸多领域。特别是材料科学研究中,正电子对微观缺陷研究和相变研究正发挥着日益重大的作用。


测试样品要求

1,理想样品尺寸面积10x10 mm(固体粉末直接压片为直径10毫米以上的圆片),样品的厚度至少要有1 mm。如果样品制备特别困难,也可以使用最小尺寸为8x8 mm(或直径8毫米)的样品,样品厚度也可比1 mm略小。当单片样品较薄时,可以用多片样品叠加

2,一组样品要同样的2片;不同样品尽量保持在同一压力下进行压片。


一般样品测试时间?

5-6小时/样品


是否支持低温或者变温?

一般不支持。变温需要定制测试方案。


能测的材料有哪些?

金属,非金属,聚合物,半导体等。


能测的模式有哪些?

寿命谱,多普勒展宽谱,AMOC(关联谱)。


测试对材料结构有破坏吗?

没有破坏,正电子测试是一种无损检测。


你们包括后面的数据分析吗?

可以的,解谱和分析都是可以的,分析需要单独收费。