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Condition:
产品
chosen：
板卡类型
：
AD卡 DA卡 IO卡 专用数据采集卡
 
采样率
：
1GS/s以上 100 M-1GS/s 10-100MS/s 10MS/s以下
 
接口
：
PCIe Ethernet PXIe PCI PXI CompactPCI
 
DN6.49系列
DN6.49系列
产品简介： 24, 32, 40 或 48 通道，采样率 10 MS/s 到60 MS/s ； 软件选择单端或差分输入 ； 所有通道同步采集 ；额外的数字输入选件 ； 6个输入范围: ±200 mV 到 ±10 V；64 MSample/通道内存
DN6.44系列
DN6.44系列
产品简介： 12, 16, 20 或 24 通道，采样率 130 MS/s 到500 MS/s ； 所有通道同步采集 ；所有通道独立的ADC和放大 ； 6 输入范围: ±200 mV 到　±10 V ； 6, 8, 10 或　12 GSample 内存 ；
M4x.22系列
M4x.22系列
产品简介： 8 位数据采集卡，采样率高达 5 GS/s ；5 GS/s 单通达，2.5 GS/双通道 ； 1.25 GS/s 4通道 ； 高达1.5 GHz 带宽 ；PXIe 3U 结构， 2 槽宽 ； 超快的 PCI Express x4 Gen 2 接口 ；所有通道同步采集；4 GSample板载内存
M2p.59系列
M2p.59系列
产品简介： 20MS/s-125MS/s采样率 ；16bit精度，1-8通道；同步采集， PCI Express x4 接口，支持多板卡同步采集，500MSample板载内存；支持单端和差分输入。
M4x.44系列
M4x.44系列
产品简介： 14/16位 数据采集卡，采样率高达500 MS/s ； 高达500 MS/s 4通道 ； PXIe 3U 结构， 2 槽宽 ； 超快的PCI Express x4 Gen 2 接口 ；  2 GSample (4 GByte) 板载内存
M4i.44系列
M4i.44系列
产品简介： 14/16 位数据采集卡，采样率高达 500 MS/s ；高达500 MS/s 4通道 ； PCI Express x8 Gen 2 接口 ； 所有通道同步采集 ；  2 GSample (4 GByte) 板载内存
DN2.49系列
DN2.49系列
产品简介： 4, 8 或　16 通道，采样率 10 MS/s 到 60 MS/s ； 软件选择单端或差分输入 ； 所有通道同步采集 ；  每通道独立的ADC和放大 ；6 输入范围: ±200 mV 到 ±10 V ； 512 MSample/1 GSample 内存
正电子寿命谱测量系统
正电子寿命谱测量系统
产品简介： 正电子寿命测量法用于半导体材料中空位型缺陷的测量。这是一种带有测量装置和电源的全寿命正电子寿命测量系统。在寿命（时间）测量系统中，时间是用3GS/s采集卡来测量的，进来信号是由两BaF2的闪烁体产生....
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