Focus on digitizer and nuclear instrument
Contact us:86010-82711450
Product Detail

SDD X射线探测系统

板卡类型 专用数据采集卡
产品简介 1元,4元和7元SDD探测系统,有效面积:350mm² (65mm² Collimated to 50mm² x 7 elements) ;功能:Histogram, List, Waveform, ROI-SCA ;ADC:4通道 100Msps 14bit ;能力分辨率:244eV@5.9keV MnKα Peakingtime 0.25μs,1000kOCR
产品详情

7元的SDD X射线探测器系统
高计数率、高灵敏度和DSP处理

xsdd50系列为一体化系统,有探测器(在材料场分析中需要用x射线吸收显微组织的测量)、数据采集板和电源。它用高灵敏度多SDD探测器计实现了高计数率和能量分辨率。此外,可以通过晶体管复位和DSP处理来测量高计数率。

单元面积:455mm² (65mm² x 7elements)
有效面积:350mm² (65mm² Collimated to 50mm² x 7 elements)
功能:Histogram, List, Waveform, ROI-SCA
ADC:4通道 100Msps 14bit
能力分辨率:244eV@5.9keV MnKα Peakingtime 0.25μs,1000kOCR
硅漂移探测器电源:-200V,±5V, +3.3V
接口:网口Ethernet (TCP/IP)

适合同步辐射装置中的应用,该产品已成功应用于

SPring-8、KEK、SAGA Light Source、Aichi Synchrotron Radiation Center等


400kICR 185eV@5.9keV 0.25μs 高峰时间